碳化硼微粉檢測方​​法

碳化硼微粉檢測方​​法
工業生產中的固體顆粒，包括磨料顆粒，大部分都是不規則的幾何體。在顆粒測量中，一般用「粒徑」來描述顆粒的大小。這裡的直徑是指虛擬的“當量直徑”，它的定義是：當被測顆粒的某種物理特性最接近某個直徑（組合）的最大直徑（組合）時，測得該顆粒的當量直徑。不同原理的粒度測量儀器採用不同的物理特性來測量顆粒，因此同一產品的測量結果往往不同。在碳化硼
研磨的測量中，沉降法是透過沉降速度的大小來測量顆粒尺寸，庫爾特法（電阻法）是利用電解液中顆粒引起的電阻變化來測量顆粒尺寸。粒子;三打）光斑大小測量粒度雷射粒度儀是目前國際上最受歡迎、最先進的顆粒測量儀器。它利用微小顆粒來測量光的衍射現象（顆粒衍射角越小，顆粒越大）。相同粒徑的顆粒的繞射角是相同的。無論在偵測區域的任何位置，透鏡都會將衍射光以一定角度聚焦到同一區域。關係;不同的顆粒聚焦在偵測器的不同區域，透過測量這些區域的衍射光強度即可獲得顆粒的分佈。該儀器採用雷射作為光源，透過電腦分析數據並控制測量過程。